The Community for Technology Leaders
11th IEEE International On-Line Testing Symposium (2010)
Corfu, Greece
July 5, 2010 to July 7, 2010
ISBN: 978-1-4244-7724-1
pp: 235-239
Michel Agoyan , Département Systèmes et Architectures Sécurisées (SAS), CEA-LETI, Gardanne, France
Jean-Max Dutertre , École Nationale Supérieure des Mines de Saint-Étienne (ensmse), Gardanne, France
Amir-Pasha Mirbaha , École Nationale Supérieure des Mines de Saint-Étienne (ensmse), Gardanne, France
David Naccache , Équipe de cryptographie, École normale supérieure, Paris, France
Anne-Lise Ribotta , École Nationale Supérieure des Mines de Saint-Étienne (ensmse), Gardanne, France
Assia Tria , Département Systèmes et Architectures Sécurisées (SAS), CEA-LETI, Gardanne, France
ABSTRACT
This note describes laser fault experiments on an 8-bit 0.35μm microcontroller with no countermeasures. We show that reproducible single-bit faults, often considered unfeasible, can be obtained by careful beam-size and shot-instant tuning.
INDEX TERMS
CITATION

M. Agoyan, A. Mirbaha, A. Tria, D. Naccache, A. Ribotta and J. Dutertre, "How to flip a bit?," 11th IEEE International On-Line Testing Symposium(IOLTS), Corfu, Greece, 2010, pp. 235-239.
doi:10.1109/IOLTS.2010.5560194
89 ms
(Ver 3.3 (11022016))