The Community for Technology Leaders
11th IEEE International On-Line Testing Symposium (2009)
Sesimbra-Lisbon, Portugal
June 24, 2009 to June 26, 2009
ISBN: 978-1-4244-4596-7
pp: 69-74
P. Bernardi , Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
P. Rech , Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
D. Appello , STMicroelectronics, Agrate Brianza (MI), Italy
M. Sonza Reorda , Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
S. Gerardin , Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
M. Grosso , Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
A. Paccagnella , Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
ABSTRACT
This paper presents the results of Alpha Single Event Upsets tests of an embedded 8051 microprocessor. Cross sections for the different memory resources (i.e., internal registers, code RAM, and user memory) are reported as well as the error rate for different codes implemented as test benchmarks. Test results are then discussed to find the contribution of each available resource to the overall device error rate.
INDEX TERMS
CITATION
P. Bernardi, P. Rech, D. Appello, M. Sonza Reorda, S. Gerardin, M. Grosso, A. Paccagnella, "Evaluating Alpha-induced soft errors in embedded microprocessors", 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, vol. 00, no. , pp. 69-74, 2009, doi:10.1109/IOLTS.2009.5195985
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