The Community for Technology Leaders
Pattern Recognition, International Conference on (2008)
Tampa, FL USA
Dec. 8, 2008 to Dec. 11, 2008
ISSN: 1051-4651
ISBN: 978-1-4244-2174-9
TABLE OF CONTENTS

Feature Extraction base on Local Maximum Margin Criterion (Abstract)

Wankou Yang , Sch. of Comput. Sci. & Technol., Nanjing Univ. of Sci. & Technol., Nanjing, China
Jianguo Wang , Sch. of Comput. Sci. & Technol., Nanjing Univ. of Sci. & Technol., Nanjing, China
Mingwu Ren , Sch. of Comput. Sci. & Technol., Nanjing Univ. of Sci. & Technol., Nanjing, China
Jingyu Yang , Sch. of Comput. Sci. & Technol., Nanjing Univ. of Sci. & Technol., Nanjing, China
pp. 1-4

Beyond partitions: Allowing overlapping groups in pairwise clustering (Abstract)

A. Torsello , Dipt. di Inf., Univ. Ca' Foscari di Venezia, Venice
S. Rota Bulo , Dipt. di Inf., Univ. Ca' Foscari di Venezia, Venice
M. Pelillo , Dipt. di Inf., Univ. Ca' Foscari di Venezia, Venice
pp. 1-4
136 ms
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