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2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium
Evaluating Alpha-induced soft errors in embedded microprocessors
Sesimbra-Lisbon, Portugal
June 24-June 26
ISBN: 978-1-4244-4596-7
P. Rech, Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
S. Gerardin, Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
A. Paccagnella, Università di Padova, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Italy
P. Bernardi, Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
M. Grosso, Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
M. Sonza Reorda, Politecnico di Torino, Dipartimento di Automatica e Informatica, Italy
D. Appello, STMicroelectronics, Agrate Brianza (MI), Italy
This paper presents the results of Alpha Single Event Upsets tests of an embedded 8051 microprocessor. Cross sections for the different memory resources (i.e., internal registers, code RAM, and user memory) are reported as well as the error rate for different codes implemented as test benchmarks. Test results are then discussed to find the contribution of each available resource to the overall device error rate.
Citation:
P. Rech, S. Gerardin, A. Paccagnella, P. Bernardi, M. Grosso, M. Sonza Reorda, D. Appello, "Evaluating Alpha-induced soft errors in embedded microprocessors," iolts, pp.69-74, 2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2009
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